手持式測厚儀 OXFORD-563 

牛津儀器OXFORD-563表面銅厚測量，剛性及柔性，單層，雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設計。

牛津OXFORD-563優(yōu)勢：

1.  牛津OXFORD-563采用微電阻測試技術(shù)，提供了精確測試表面銅厚度（包括覆銅板、化學(xué)銅和電鍍銅板）的方法。由于采用了目前市場(chǎng)上*的測試技術(shù)，無(wú)論絕緣板層多厚，印刷電路板背面銅層不會(huì )對精確可信的測量結果產(chǎn)生影響。

2.  創(chuàng )新型的銅箔測厚儀配置探針可由用戶(hù)自行更換的SRP-4探頭。相對于整個(gè)探頭的更換，更換探針更為方便和經(jīng)濟。OXFORD-563可由用戶(hù)選擇所測試的銅箔類(lèi)型，即化學(xué)銅或電鍍銅；甚至無(wú)需用戶(hù)校準，即可測量線(xiàn)形銅箔度。NIST(美國國家標準和技術(shù)學(xué)會(huì )）認證的校驗用標準片有不同厚度可供選擇。高品質(zhì)的

牛津OXFORD-563測試技術(shù)：

1.  微電阻測試技術(shù)利用四根接觸式探針在表面銅箔上產(chǎn)生電信號進(jìn)行測量。SRP-4探頭采用四根*設計、堅韌耐用的探針（牛津儀器產(chǎn)品）以保證高精確度、小接觸面積和zui小的測量表面印痕。

2.  探針可通過(guò)透明材質(zhì)的外殼看到，使客戶(hù)能夠精確地定位測試位置。探針采用高耐用性的合金以抵抗折斷和磨損。當探頭接觸銅箔樣品時(shí)，恒定電流通過(guò)外側兩根探針，而內側兩根探針測得該電壓的變化值。根據歐姆定律，電壓值被轉換為電阻值，利用一定的函數，計算出厚度值。

3.  微電阻測試技術(shù)為銅箔應用提供了高準確度的銅厚測量。

牛津OXFORD-563探頭特點(diǎn)：

1.  系繩式的SRP-4探頭采用結識耐用的連接線(xiàn)以用于現場(chǎng)操作。另外，SRP-4探頭的小覆蓋區令使用更為方便友好。

2.  SRP-4探頭采用可用戶(hù)替換式探針模塊。耗損的探針能在現場(chǎng)迅速、簡(jiǎn)便地換,將停機時(shí)間縮至zui短。更換探針模塊遠比更換整個(gè)探頭經(jīng)濟。  OXFORD-563的標準配置中包含一個(gè)替換用探針模塊。另行訂購的探針模塊以三個(gè)為一組。

牛津OXFORD-563產(chǎn)品功能：

牛津OXFORD-563技術(shù)參數:                           測量范圍：